光学測定用クライオスタット装置 OCSS-R4T
特徴
サンプルホルダーを極低温 ～ +100 °C（4 K ～ 373 K）までの任意の温度に制御して、さらに少ない振動状態で光学測定ができます。
●サンプルホルダーは冷凍機にて極低温になります。
●サンプルホルダー付近のヒータを加熱制御し、373 Kまでの任意の温度に制御することが可能です。
●防振ベローズ+防振ゴム及び冷凍機空間をガス溜め構造にして振動を除去しております。
●光学窓は、有効窓径ø20 mmを4⾯準備し各種光学測定が可能です。
●資料位置を調整できるように、回転・⾼さ・X-Yの各調整機構を有しております。
●サンプルホルダー付近のヒータを加熱制御し、373 Kまでの任意の温度に制御することが可能です。
●防振ベローズ+防振ゴム及び冷凍機空間をガス溜め構造にして振動を除去しております。
●光学窓は、有効窓径ø20 mmを4⾯準備し各種光学測定が可能です。
●資料位置を調整できるように、回転・⾼さ・X-Yの各調整機構を有しております。
| 製品仕様 | |
| 冷凍装置 | |
| 冷凍機ユニット | RDK-205D型 |
| 圧縮機ユニット | CWK-21A型 |
| 組合せ冷凍能力 | 2段ステージ: 0.5 W at 4.2 K 50/60 Hz 1段ステージ: 3/4 W at 50 K 50/60 Hz |
| 冷却方式 | 水冷式: 水量 3 L/min ～ 3.5 L/min at +28 °C |
| 重量 | 冷凍機ユニット: 約14 kg 圧縮機ユニット: 約70 kg |
| クライオスタット | |
| 主原料 | ステンレス |
| 温度性能 | 最低到達温度: 4 K 最⾼到達温度: 373 K 温度安定性: ±0.2 K以下（4 K ～ 373 K） |
| 冷却時間 | 180 分以内 （室温から10 Kまで） |
| 除振機構 | 防振ベローズ+防振ゴム 及び 冷却部ガス溜め式 振動値 ±3 μm |
製品改良のため、予告無しに仕様・構造などの変更を⾏うことがあります。
